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低溫掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面成像技術，它通過在非常低的溫度下對樣品進行掃描和檢測來獲得微觀結構和性質信息。這種技術可以用于研究許多不同類型的材料，包括納米結構、超導體、有機材料和金屬合金等。基于掃描隧道顯微鏡（STM）的原理，但它比STM多了一個重要的特點：在非常低的溫度范圍內操作。低溫能夠減緩或消除許多熱噪......

針式掃描原子力顯微鏡是一種利用量子隧穿現象的顯微鏡，可以進行原子級的表面成像。核心部分是一個非常尖銳的針，一端與被測樣品表面相距約0.1納米。當針尖靠近樣品表面時，電勢差將導致電流從針尖向樣品表面流動。通過控制電流的大小，可以得出樣品表面的形狀信息。能夠實現原子級別的成像，不僅可以觀察單個原子和分子的結構，還可以研究它......

快速掃描探針顯微鏡是一種新型的探針顯微鏡，是從掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的統稱。基本工作原理是利用探針與樣品表面原子和分子之間的相互作用，即當探針與樣品表面接近納米尺度時，形成各種相互作用的物理場，通過檢測相應的物......

afm原子力顯微鏡探針是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。1981年，STM（scanningtunnellingmicroscopy,掃描隧道顯微鏡）由IBM-Zurich的BinnigandRohrer發明。1982年，Binnig觀察到原子分辨圖Si(7x7)。1985年，Binnig,Ger......